SX1934D型二合一數字式四探針測試計 
 產品說明 
SX1934D型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，測量擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。換上特制的四探針測試夾具，還可以對金屬導體的低、中值電阻進行測量，適用于半導體、太陽能行業的篩選。 
產品特點 
 　　儀器由(you)主機(ji)(ji)、測試(shi)探頭（可選配測試(shi)臺）等部分組(zu)成(cheng)，測試(shi)結果(guo)由(you)數字表頭直接顯示。主機(ji)(ji)主要(yao)由(you)數控恒(heng)流源，高(gao)分辨率(lv)ADC、嵌入式單片機(ji)(ji)系(xi)統組(zu)成(cheng)，自動轉換(huan)量程。測試(shi)探頭高(gao)分子(zi)材(cai)料和高(gao)耐磨碳化(hua)鎢(wu)探針(zhen)制成(cheng)，故定位準(zhun)確(que)、游移率(lv)小、壽命長。儀器具有測量精度高(gao)、靈敏(min)度高(gao)、穩定性好、智(zhi)能化(hua)程度高(gao)、測量簡便、結構緊湊(cou)、使用方(fang)便等特點(自動調零)。可鑒別半(ban)導(dao)體PN類別。