半導體激光塵埃粒子計數器 型號：CLJ-D

北京 創業 專業鑄造品質
該系列儀器的技術指標均滿足 計量總局頒布的JJG547-88檢定規程的要求，整機功能采用美國微電腦控制處理技術及上 的SMT芯片貼片封裝技術和半導體激光傳感器技術及防噪聲氣泵，可直接打印檢測結果。具有功能多、測量精度高、速度快、便于攜帶和操作簡單等特點。儀器一次采樣可同時測得多種粒徑的塵埃粒(li)子(zi)數(shu)，并能選(xuan)擇觀察其(qi)中某一粒(li)徑(jing)粒(li)子(zi)的數(shu)目(mu)及其(qi)變化情況，對(dui)于研究(jiu)、檢(jian)測和(he)評價各種(zhong)潔凈環境都(dou)十分(fen)方便。該(gai)系列儀器性(xing)能設計(ji)、質(zhi)量穩(wen)定可靠

半導體激光塵埃粒子計數器 型號：CLJ-D

北京 創業 專業鑄造品質
　　該(gai)系列產品已被廣泛(fan)應用于潔(jie)凈室(shi)檢(jian)測；過濾器(qi)現(xian)場(chang)檢(jian)測、撿(jian)漏；可監(jian)(jian)測凈工(gong)作臺、生(sheng)物 柜，HVAC系統，計算機(ji)室(shi)、飲(yin)料包裝(zhuang)環境(jing)，醫(yi)療器(qi)械(xie) 環境(jing)，醫(yi)院潔(jie)凈手術(shu)室(shi)，汽車噴涂環境(jing)微(wei)電(dian)子(zi)(zi)、制藥(yao)、生(sheng)化(hua)(hua)制品、食品衛生(sheng)、精(jing)細化(hua)(hua)工(gong)、精(jing)密(mi)機(ji)械(xie)和(he)航(hang)空航(hang)天等 和(he)科研部(bu)(bu)門，是制藥(yao)企業及(ji)其(qi)監(jian)(jian)督(du)管理部(bu)(bu)門貫徹GMP規(gui)范及(ji)電(dian)子(zi)(zi) 企業的儀器(qi)。 北(bei)京(jing) 創業 專業鑄(zhu)造品質

半導體激光塵埃粒子計數器 型號：CLJ-D

主(zhu)要(yao)技術參(can)數及性能：

半導體激光塵埃粒子計數器 型號：CLJ-D

質
1.光源: 全半導體 激光光源
2.采樣量: 2.83L/min(0.1cfm/min)
3.檢測范圍: 100級～100萬級
4.允許被測試空氣的含塵濃度≯10 萬顆/2.83L
5.粒徑通道: 0.3 0.5 1.0 3.0 5.0 10.0（μm）六檔
6.顯示或打印可將2.83升/分內所含顆粒轉換成1m3所含顆粒數。
7.采樣周期: 1～10 (min)
8.自凈時間: ≤15 (min)
9.校準：可追溯美國 標準技術協會（NIST），我公司已通過 計量建標考核，可追溯至上海計量測量技術研究院可自行進行校準或第三方 計量機構進行校準
10.工作環境: 溫度:10～35℃ 相對溫度: 20～75%RH
11.zui大功耗: 25W
12.測量溫度和濕度的范圍與精度：（選購）
（1） 溫度：0～50℃±1℃
（2） 濕度：0～100%RH±5%
13.采樣點數 2～7點設定
14.每點采樣次數 2～9次設定
15.UCL報表：符合FS-209E、中國GMP的標準
16.工作時間：8 小時
17.電源： AC220V±10% 50±2Hz
18.重量:4.8kg
19.外形尺寸: 260×130×340
20.六檔粒徑塵埃濃度同時檢測，依次數字顯示或自選粒徑顯示。
21.備注(zhu): 內(nei)置(zhi)打印機、自動判斷凈化等級(ji)、等動力采樣頭、采樣架

半導體激光塵埃粒子計數器 型號：CLJ-D