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光耦參數測試儀 JFY3010A
點擊次數：369 更新時間：2017-07-13

光耦規格試(shi)驗儀應用(yong)：JFY3010A

JFY3010A光耦參數測試儀詳細介紹
※概述:
JFY3010A光耦參數測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用 方便,適用電子產品 或電子元件供應商來料檢測。
※             測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦
※             測量參數:

主要參數技(ji)術指(zhi)標表:

性能項

測試(shi)方法基本(ben)參(can)數

測評(ping)標準配置

插入雙向壓降(VF)

0-2.000V

0-400MA

抗壓(BVCEO)

0-1200V

0-2.000MA

無線傳輸比(bi)(CTR)

0-3000

VCE:0-20V IC:0-2.000A

飽合壓降(Vsat)

0-2.000V

IF:0-400MA IC:0-2.00A

傷害漏電流(Iceo)0-1mAVCE=20V
插入逆向漏電流(IR)0-1mAVR=4V
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